直讀光譜的介紹篇

1、原子發(fā)射光譜儀由哪幾部分構(gòu)成？

原子發(fā)射光譜儀器一般由激發(fā)光源、色散系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)組成。
激發(fā)光源——提供試樣蒸發(fā)，原子化，激發(fā)的能量；
色散系統(tǒng)——將光源產(chǎn)生的復(fù)合光按波長順序分開；
檢測系統(tǒng)——檢測并記錄光譜。
根據(jù)所檢測到的特征譜線的波長和強度來測定物質(zhì)的元素組成和含量。

2、直讀光譜儀有哪些種類？

直讀光譜儀可以有不同的劃分方法。
根據(jù)光柵所處的環(huán)境不同，可分為真空型和非真空型直讀光譜儀，其中非真空型直讀光譜儀又可分為空氣型直讀光譜儀（無法測定真空紫外波段的C、P、S、As等元素含量）和充惰性氣體型直讀光譜儀（可以測定真空紫外元素）；
根據(jù)儀器的結(jié)構(gòu)不同，又可分為多道直讀光譜儀和全譜直讀光譜儀，其中前者多采用光電倍增管作為檢測器，后者多采用陣列檢測器（如CCD）。
隨著CCD技術(shù)的不斷發(fā)展，直讀光譜儀開始朝小型化、全譜型方向發(fā)展。小型化儀器功耗小，占用空間小且易于維護；全譜直讀光譜儀能夠獲得全波段范圍內(nèi)的光譜，滿足多基體分析要求，譜線選擇靈活，可以有效扣除光譜干擾，分析更準確，而多道直讀光譜儀只能檢測有限數(shù)量的光譜，很難做到這一點。

直讀光譜的選擇篇

1、全譜型光譜儀和多道型光譜儀各有什么特點？

全譜型光譜儀具有以下特點：

1）全譜檢測，能夠獲得紫外至可見的所有譜線，可根據(jù)需求來選擇分析譜線，易于實現(xiàn)多基體的分析；
2）能根據(jù)元素的含量范圍和基體種類選擇優(yōu)的分析譜線，實現(xiàn)更準確的測量；
3）易于擴展升級，用戶若需增加新基體或新元素的分析，只需添加相應(yīng)分析程序，無需改變儀器硬件；
4）譜線信息豐富，結(jié)合扣背景、譜線分離等先進的算法，可以準確扣除各種光譜干擾；
5）儀器校準方便快捷，只需通過智能校準算法，即可實現(xiàn)光譜校正，無任何運動部件；

多道光譜儀的主要特點：

1）多采用PMT檢測器，具有噪聲低、動態(tài)范圍大的優(yōu)點，特別適合高純金屬的分析；
2）數(shù)據(jù)讀出速度快，可實現(xiàn)光譜時域解析（TRS）、單火花評估等功能，從而滿足酸溶物和夾雜物等特殊分析需求；
3）定制化生產(chǎn)，通道選擇出廠前已配置完成，升級困難。
4）受到PMT體積和安裝空間的限制，元素配置的通道有限，在分析不同含量范圍和基體種類的樣品時，往往采用同一分析譜線，不能實現(xiàn)佳的分析效果；
5）測量的是出縫寬度內(nèi)的整體光強，這種方法無法消除背景和光譜干擾。

2、實現(xiàn)真空紫外波段測量的手段有哪些？

在直讀光譜儀的實際應(yīng)用中，如C、P、S、As等元素的佳光譜線均在真空紫外波段，而空氣中的氧及水蒸氣等會對這些譜線產(chǎn)生強烈的吸收，使光譜強度急劇減弱，影響元素測量，所以應(yīng)當將光室中的空氣除去。
目前主流市場上主要有兩種方式可以實現(xiàn)真空紫外波段元素的測量：光室抽真空或充惰性氣體（如氬氣、氮氣等）。
抽真空型的直讀光譜儀需要用額外的真空泵，存在油蒸汽污染嚴重、噪聲大等環(huán)境問題。同時，功耗高、真空穩(wěn)定速度慢，儀器需長期開機，浪費嚴重。
光室充惰性氣體能實現(xiàn)真空紫外探測能力的同時，還具有穩(wěn)定時間短，無噪聲等優(yōu)點，且能避免由于真空系統(tǒng)造成的光室變形、儀器漂移和環(huán)境污染等問題。目前，市場主流光譜儀多采用CCD傳感器作為檢測裝置，光室體積可做到很小，更有利于惰性氣體環(huán)境建立，從而得到更好的紫外元素分析效果，且該項技術(shù)已經(jīng)過十多年市場驗證，穩(wěn)定可靠。

直讀光譜的安裝篇

1、直讀光譜儀的安裝須滿足什么條件？

環(huán)境要求：

（1）光譜儀應(yīng)置于專用的工作空間，附近應(yīng)無有害、易燃及腐蝕性的氣體，不要與化學分析放在一起。
（2）保證至少十平方米以上空間。
（3）工作溫度：（10～30）℃，因儀器工作需要恒溫條件，室溫波動要盡量小，室內(nèi)需要安裝空調(diào)。
（4）存儲溫度：（0～45）℃。
（5）環(huán)境相對濕度：（20～80）％，對于潮濕地區(qū)，需配備一臺除濕機。

放置位置要求：

（1）光譜儀應(yīng)該放置在一個平整、穩(wěn)定的位置，不應(yīng)該有震動。
（2）光譜儀的背面與墻之間應(yīng)該留有適當?shù)木嚯x以方便安裝與維護。

電源要求：

（220±20）V AC，50Hz，保護性接地的單相電源。電源的PE接地必須可靠，以保證儀器正常工作和避免人體觸電。如果不能保證PE可靠接地，請為儀器提供一條專用地線。
為保證儀器的正常使用，請為儀器配備一臺（1~2）KVA（視接負載量而定）的單相220V 交流參數(shù)穩(wěn)壓器。

氬氣要求：

（1）氬氣純度≥99.999%；
（2）氬氣入口壓力：0.5MPa；

標準樣品：

準備適合自己產(chǎn)品類型的標準樣品或內(nèi)控樣品。

2、地線和電源的質(zhì)量為什么會影響檢測結(jié)果？

光源產(chǎn)生的電磁輻射被屏蔽罩吸收并隨地線釋放，假如接地不良，這些干擾電壓就會影響各弱電回路的地電位，從而造成控制系統(tǒng)誤動作，模擬信號失真，分析精度差等問題。所以經(jīng)常維護地線是十分必要的。一般要求零線和地線之間的電壓小于2V，大不能超過5V。
光電直讀光譜儀基于光電轉(zhuǎn)換原理，若電源電壓不穩(wěn)會造成激發(fā)光源的能量波動，采集信號異常等問題，因此直讀光譜儀使用過程中一般要配有穩(wěn)壓器。另外，由于大功率電器會影響電網(wǎng)的穩(wěn)定性，從而影響直讀光譜儀的測量精度，而強輻射的電器也會通過空間電磁場干擾數(shù)據(jù)的采集，引起測量誤差，因此直讀光譜儀還應(yīng)避免與大功率、強輻射電器同時使用。

3、溫度對光譜儀有什么影響？

直讀光譜儀屬于精密測量儀器，光學系統(tǒng)微小的變化（如結(jié)構(gòu)件的熱脹冷縮等）即會引起很大的測量誤差，因此光譜儀在設(shè)計時會對光學系統(tǒng)進行恒溫控制。但即使如此，外界溫度的變化仍會影響恒溫系統(tǒng)的熱平衡狀態(tài)，引起測量誤差，因此為了保證測量結(jié)果的精密度，應(yīng)盡可能減小使用過程中環(huán)境溫度的波動，大不應(yīng)超過5℃。
另外，大多數(shù)光譜儀廠家對儀器的使用溫度都有嚴格的限制，一般在10-30℃之間。首先是因為儀器在工廠校準時的溫度在20℃左右，10-30℃內(nèi)使用可以獲得較好的測量精度，其次儀器的部件及設(shè)計在10-30℃范圍內(nèi)具有更高的可靠性，超出該溫度范圍使用，會引起可靠性下降，嚴重的還會引起儀器故障；另外，光譜儀一般把光室的溫度控制在34~38℃之間的某個溫度點（不同型號儀器恒溫溫度不同），為了確保光譜儀的恒溫控制正常工作，儀器使用的環(huán)境溫度必須與光譜儀恒溫溫度有一定的溫差，因此要求儀器使用環(huán)境溫度低于30℃。
因此，直讀光譜儀在使用過程中應(yīng)嚴格控制環(huán)境溫度，配備足夠功率的空調(diào)系統(tǒng)。

直讀光譜的驗收篇

1、光電直讀光譜儀的驗收指標有哪些？

直讀光譜儀的驗收指標可參考《JJG768-2005 發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程》，主要的是直讀光譜儀的重復(fù)性和穩(wěn)定性。
其中，重復(fù)性反應(yīng)儀器的基本性能及誤差影響，是主要的驗收指標。重復(fù)性良好，說明數(shù)據(jù)波動較小，具備準確測定的能力。如果數(shù)據(jù)重復(fù)性不好，數(shù)據(jù)之間相差較大，就無法確定哪一個數(shù)據(jù)更可靠，也就無法完成準確的測量。
穩(wěn)定性是測量儀器保持其計量特性隨時間恒定的能力，衡量儀器一段時間內(nèi)測量結(jié)果的波動性，決定了儀器的校準周期，穩(wěn)定性好可以適當延長校準時間，降低儀器的使用成本。
很多人在驗收過程中，僅關(guān)注準確度，這種認識是片面的。直讀光譜儀的定量方法屬于參照法，即需要一系列的標樣來制定工作曲線作為參照標準，再通過對比待測元素的強度，計算出元素含量。由于標樣和實際樣品存在差異，測量結(jié)果勢必有一定的偏差，但這種偏差可以通過控樣來修正。因此，測量結(jié)果的準確度除了與儀器有關(guān)外，還與控樣的質(zhì)量有密切的關(guān)系，只有重復(fù)性和穩(wěn)定性才直接體現(xiàn)儀器性能的好壞。

直讀光譜的耗材選擇篇

1、為什么光譜儀激發(fā)樣品時需要高純氬氣保護？

（1）氬氣的電離電位較低，易于形成等離子區(qū)；
（2）氬氣為惰性氣體，不會與樣品金屬蒸氣反應(yīng)；
（3）氬氣能夠傳輸真空紫外光譜（并非真空下的光譜，而是波長在10-200nm之間的光譜），如C、P、S等，不會影響紫外及真空紫外區(qū)域元素的測定；
（4）氬氣為原子狀態(tài)氣體，譜線簡單，不宜形成譜線干擾；
（5）氬氣的背景輻射低；

自行檢查氬氣的質(zhì)量比較困難，一般而言，首先是看氬氣供應(yīng)商的資質(zhì)，其次，為保證氬氣純度，可配置氬氣凈化器。若要對氬氣精確檢驗，須采購特定的氬氣純度測定儀。
當然還有一種簡單方法，因直讀光譜儀對氬氣的純度要求很高，可以用直讀光譜儀試用下，若能夠正常激發(fā)，打出來的點無異常，且數(shù)據(jù)穩(wěn)定，一般來說就可正常使用。為避免出現(xiàn)霧狀白點，建議配置氬氣凈化器。

2、如何選擇控樣？

使用控樣的思想就好比天平的砝碼調(diào)節(jié)?？貥幽軌驕p少曲線漂移，儀器波動，樣品冶煉和加工工藝等帶來的差異，建議測定樣品時一定要使用控樣校正。
控樣應(yīng)該是一個與分析試樣的冶金過程和物理狀態(tài)一致的標準樣品，其各元素含量應(yīng)當準確可靠、成分均勻、外觀無氣孔、沙眼、裂紋等物理缺陷，并且各元素含量應(yīng)位于校準曲線含量范圍之內(nèi)，盡可能與分析樣品的含量接近?！缎Ｕ龢藰釉诠怆娭弊x法中的分析研究和運用》（張存貴郝艷峰）一文報道：通過實驗對比發(fā)現(xiàn)，用自己熔煉的校正樣品分析比用市場上采購來的樣品分析準確性更好，因而建議有實力的廠家，好是把自己的產(chǎn)品熔煉后重新定值作控樣。

直讀光譜的樣品要求篇

1、光電直讀光譜儀分析時對被檢測樣品有什么要求？應(yīng)該如何制樣？

為了獲得準確的分析結(jié)果，要求樣品：
（1）不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷；
（2）樣品表面必須平整，可以完全蓋住激發(fā)孔隙；
（3）樣品表面必須清潔、不得污染，不能帶有其他物質(zhì)，也不能用手摸；

制樣要求：一般情況下，鋁、銅等有色金屬基體的試樣需要車或銑，鐵、鎳等黑色金屬基體的試樣可以磨制（鑄態(tài)試樣需要先切割）。要求磨制后的樣品表面平整潔凈、紋路清晰、溫度適宜。另外，不同基體的樣品盡量不要在同一砂紙制樣。

其中鑄鐵必須白口化后才能分析，白口化時應(yīng)注意以下幾點：

1）一般多用樣模澆鑄，樣模盡量取直徑35-40mm，厚6-8mm，這樣試樣冷卻快，白口好，待鐵水澆后30秒左右取出，開水澆再冷水冷。
2）不要澆鑄過快，避免偏析；
3）盡量選取砂模，減少縮孔和夾雜。

2、激發(fā)部位的選擇：試樣制備好后在什么地方激發(fā)合適？

一般選在距離試樣中心三分之二的圓周部位。（請參閱《分析化學實驗室手冊》）
如鋼鐵試樣在模具中凝固以后會形成三個晶區(qū)即精細粒區(qū)、柱狀晶區(qū)和等軸晶區(qū)。試樣外層是精細粒區(qū)，該區(qū)域晶粒雜亂且區(qū)域較?。ㄒ话阒挥袃扇撩祝辉嚇又行膮^(qū)域是等軸晶區(qū)，就晶體本身來說較適合光譜分析，但是該區(qū)域多縮孔、砂眼、夾雜等缺陷；所以距離試樣中心三分之二的圓周是理想的分析區(qū)域，該區(qū)域多為柱狀晶，宏觀偏析也較小，適合光譜分析。（關(guān)于宏觀偏析和微觀偏析還和易偏析元素含量有關(guān)?？梢詤㈤喴苯鹣嚓P(guān)書籍。）
另外，鑄態(tài)試樣凝固時間越短越有利于分析，以避免偏析的出現(xiàn)。

3、線材、棒材能不能用直讀光譜儀分析？

可以，但必須使用特殊的小樣品夾具。為滿足分析結(jié)果的要求，不同的樣品需要配備不同種類的夾具。目前很多廠家的儀器可以進行小樣品的測定，如Spectro廠家。

直讀光譜的測試篇

1、怎樣選擇合適的分析譜線？

元素的分析線多為其靈敏線，應(yīng)選擇自吸小、展寬較小、無其他元素干擾等特點的譜線。對于不同的基體，同一元素的分析線可能不同；即使同一基體的同一元素，在低含量段和高含量段的分析線也會不同。多道式光譜儀受PMT排布的限制，一般多只能測量60多條譜線，在譜線的選擇上很難根據(jù)基體、含量和干擾情況做優(yōu)化的配置，如Si的分析線一般只提供一條；而全譜型光譜儀一次采集即可獲得上萬條譜線，譜線選擇更為靈活。如，在低合金鋼中，Si的分析線選288.16，可以使探測限更低；在不銹鋼中Si288.16干擾嚴重，Si251.16更適合；在鋁硅鑄造合金中，Si的含量較高，Si390.55更合適。

注意：同一元素在不同基體中的佳分析線可能不一致，一般按照《分析化學實驗室手冊》或相關(guān)國家標準上的推薦來設(shè)置，若推薦譜線不合適，可選擇火花強度適宜，無自吸和自蝕的銳線。

2、如何對譜線進行校正？

由于外界環(huán)境變化、儀器設(shè)施改動和時間累積等原因，譜線會發(fā)生漂移，此時可利用光譜校正標樣對儀器進行校正，光譜校正標樣屬于儀器的配套產(chǎn)品，在使用過程中應(yīng)當節(jié)約，盡量不要用作其他用途。當光譜校正標樣使用完以后，請聯(lián)系儀器維護工程師，不建議自行購買。一般校正的方法如下：

全譜型：只需激發(fā)單塊標樣，即可通過軟件算法自動完成所有譜線的校正。

多道型：通過描跡完成校正，校正時需激發(fā)一組標樣才能完成所有通道的校正，如果儀器各通道的漂移不一致，單純的描跡無法完成校正，需要通過調(diào)整出射狹縫位置或折射鏡角度，來校正譜線的變化，此操作需要專業(yè)的維修工程師才能完成。

3、為什么要扣除光譜背景？

若標準樣品和被測樣品的背景不一致時，容易引起測量誤差；背景強度過大時，嚴重影響低含量元素的測定，同時造成儀器檢出限過高。因而，扣除背景有利于提高分析結(jié)果的穩(wěn)定性和準確度，提升儀器靈敏度和檢出限。
多道型直讀光譜儀測量的是各通道出縫寬度內(nèi)的光強累加值，無法區(qū)分背景強度和譜線強度，測量精度受到背景強度的影響。
全譜型直讀光譜儀可以獲得每條譜線的輪廓信息，因此可結(jié)合背景校正技術(shù)，正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測量精度。

4、直讀光譜儀在什么情況下必須做標準化？

儀器正常使用的情況下，需要定期（一般為一周）做標準化。若測試數(shù)據(jù)精確穩(wěn)定，可適當延長標準化周期。但有如下情況之一，儀器必須做標準化，否則可能會影響測試精密度。

（1）光譜校正后。
（2）儀器移動后。因?qū)嶒炇一驈S址更改，可能需要對直讀光譜儀進行轉(zhuǎn)移，為保證測試的精密度，轉(zhuǎn)移后需要重新進行標準化操作。
（3）清洗透鏡后。長時間使用會導(dǎo)致透鏡變臟，在清洗透鏡后需要對儀器重新做標準化。
（4）清理激發(fā)臺或更換電極后，建議客戶重新做標準化。

5、如何選擇控樣？

使用控樣的思想就好比天平的砝碼調(diào)節(jié)?？貥幽軌驕p少曲線漂移，儀器波動，樣品冶煉和加工工藝等帶來的差異，建議測定樣品時一定要使用控樣校正。
控樣應(yīng)該是一個與分析試樣的冶金過程和物理狀態(tài)一致的標準樣品，其各元素含量應(yīng)當準確可靠、成分均勻、外觀無氣孔、沙眼、裂紋等物理缺陷，并且各元素含量應(yīng)位于校準曲線含量范圍之內(nèi)，盡可能與分析樣品的含量接近?！缎Ｕ龢藰釉诠怆娭弊x法中的分析研究和運用》（張存貴郝艷峰）一文報道：通過實驗對比發(fā)現(xiàn)，用自己熔煉的校正樣品分析比用市場上采購來的樣品分析準確性更好，因而建議有實力的廠家，好是把自己的產(chǎn)品熔煉后重新定值作控樣。

6、光譜儀定性和定量計算原理是什么？

光譜儀是指能夠?qū)⒐庠窗l(fā)射出來的具有各種波長的復(fù)色光按照波長順序展開，并通過檢測器測量不同波長光譜強度的儀器。利用光譜儀獲得的元素特征波長信息可以定性判斷樣品中是否含有該元素；通過元素特征譜線的強度可以定量計算該元素含量，即利用一系列標樣制定工作曲線，對比待測試樣和工作曲線坐標上的強度，得到待測試樣精確的含量。

直讀光譜的維護篇

1、光電直讀光譜儀多長時間維護一次？

各直讀光譜儀廠家的儀器特點不同，因而其維護保養(yǎng)時間也是不一樣的。為保證儀器的正常運行，延長儀器的使用壽命，廠家建議客戶根據(jù)不同的情況，按如下提示進行定期的部件維護和保養(yǎng)。如果需要整機的維護和保養(yǎng)，請聯(lián)系相關(guān)的廠家，他們會為客戶提供完整的解決方案，以解決客戶的需求。

注：實際清理時間根據(jù)客戶的使用頻率而定，表中2、3、4、5項給出的是小檢查周期，若儀器性能良好，適時檢查即可，并不一定需要清理。

2、激發(fā)臺多久需要清理一次？

針對不同的基體，清理周期有所不同，如Al基一般在激發(fā)700-800次需要清理，F(xiàn)e基在1200次左右。直讀光譜儀可根據(jù)客戶的使用頻率，提醒客戶及時清理激發(fā)臺。

直讀光譜的數(shù)據(jù)處理篇

1、直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？

1)系統(tǒng)誤差也叫可測誤差，一般包括儀器的本身波動；樣品的給定值和實際值存在一定的偏差（標準樣品的元素定值方法可能和實際檢測方法不一致，這樣檢測結(jié)果會有方法上的差異；同一種方法的檢測結(jié)果也存在一定的波動）；待測樣品和系列標樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。
2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測時周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。
3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不精確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測試樣存在制樣偏差，選擇了錯誤的分析程序等。

2、儀器測定結(jié)果偏差較大，分析結(jié)果不穩(wěn)定該如何處理？

1）檢查分析方法是否正確，如分析模型、分析程序等；
2）儀器本身穩(wěn)定：檢查儀器光室溫度、內(nèi)部環(huán)境溫度、氬氣壓力是否滿足分析要求；
3）激發(fā)控樣：若控樣分析結(jié)果良好，說明儀器性能不存在問題，待測樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷；
4）控樣結(jié)果也存在較大問題時，應(yīng)當標準化；
5）清理火花臺，擦拭透鏡或平鏡，清理排污通道，更換氬氣等，然后重新校準曲線；
6）外界條件符合要求：室溫、濕度在規(guī)定范圍內(nèi)；電源電壓穩(wěn)定；周圍無大功率、強輻射電器運作；地線連接良好等；
7）對部分基體中的特別元素需要延長儀器穩(wěn)定時間。
若還存在問題，請聯(lián)系相關(guān)廠家工程師。

3、使用過程中發(fā)現(xiàn)C、P、S數(shù)據(jù)變化，而其他元素正常該怎么處理？

C、P、S的特征譜線在真空紫外區(qū)，只有在真空或惰性氣體環(huán)境下才能準確測定。C、P、S的測量性能變差，往往與光傳輸效率下降有關(guān)。常規(guī)的處理方法如下：

充氬儀器：延長光室吹掃時間，清理紫外光室透鏡，清理火花臺，校正光譜，標準化。
真空儀器：觀察真空是否泄漏，清理火花臺，清理光室透鏡，重新描跡，標準化。